晶體管測試儀|晶體管測試儀主要技術參數 系統主要技術參數列表如下： 主極電壓 2000V(加選件可擴展至3300V) 主極電流 50A(加選件可擴展到100A至2500A) 控制極電壓 20V(加選件可擴展到80V) 控制極電流 10A(加選件可擴展到40A) 電壓分辨率 1mV 電流分辨率 100pA(加選件可擴展到1pA) 測試速度 5ms/參數 3300V、2500A以上可訂制 可測試器件種類 該系統是專為測試大功率半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下19個類型的半 導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列： 器件測試種類 二極管 DIODE 穩壓（齊納）二極管 ZENER 晶體管 TRANSISTOR(NPN/PNP) 單向可控硅（普通晶閘管） SCR 雙向可控硅（雙向晶閘管） TRIAC 金屬－氧化物－半導體場效應管 MOSFET(N-CH/P-CH) 結型場效應管 JFET(N-CH/P-CH) 三端穩壓器 REGULATOR(正電壓／負電壓，固定／可變） 絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT(N-CH/P-CH) 光電耦合器 OPTO-COUPLER(NPN/PNP) 達林頓陣列器件 DARLINTON 光電開關管 OPTO-SWITCH 繼電器 RELAY(A,B,C型） 金屬氧化物壓變電阻 MOV 壓變電阻 VARISTOR 智能功率模塊 IPM 集成功率模塊 PIM晶體管測試儀|晶體管測試儀